F32-SX系列

在线测量的紧凑型解决方案
欧宝娱乐在线平台用实惠的F32-SX快速且容易地在线测量膜厚度。从胶片顶部和底部的反射率的光谱分析实时提供厚度信息。

F32-SX高级光谱仪系统进入半宽度3U机架安装底盘,并且具有附加光谱仪,可以配置为测量更薄的薄膜(具有VIS扩展),或测量最多两个不同的位置。可以通过数字I / O或主机软件来控制F32-SX软件以启动/停止/重置测量。测量数据可以自动导出到主机软件以进行统计过程控制(SPC)。电影化学®还提供可选的镜头组件,便于集成到现有的生产夹具上。

包含的软件和USB连接使得将F32-SX安装到任何简单的Windows平台PC上。借助拍摄软件的帮助,该软件预加载超过一百种材料,可以轻松获得单层和多层叠层的测量。通过测量样本的光学常数或通过从现有来源导入数据来快速添加新材料。

型号规格

模型 厚度范围* 波长范围
F32-S980 10μm - 1mm 960-1000nm.
F32-S1310 15μm - 2mm. 1280-1340nm.
F32-S1550 25μm - 3mm. 1520-1580nm.
*胶片堆叠

厚度范围*

F32系列 F32-S980 F32-S1310 F32-S1550 1nm. 10nm. 100nm. 1μm 10μm. 100μm 1mm 10mm.
F32系列 F32-S980 F32-S1310 F32-S1550 1nm. 10nm. 100nm. 1μm 10μm. 100μm 1mm 10mm.

包括什么

额外的特权

常见的可选配件