Si,硅的折射率

硅是地球上最常见的元素。它构成了几乎所有非光学半导体设备的基础。从光学上讲,硅作为检测器或反射器最有趣,其中其折射率和灭绝系数至关重要。

无论是将111还是100晶体平面暴露于样品表面,下面列出的折射率都适用。掺杂剂水平对此处考虑的波长范围(200至2500nm)的折射率也很小。当暴露于氧化环境时,硅形成了SIO2的几乎理想的表面层。在测量硅上非常薄的膜的厚度或折射率时,通常必须考虑在典型环境中形成的“天然”氧化物层。

对于典型的Si样本折射率灭绝系数632.8 nm为3.88163和0.01896923。以下是完全折射率和灭绝系数的文件。如果该文件无法下载,则可以通过单击“请求”来请求我们的专有文件。

折射率参考- 固体光学常数手册,Edward D. Palik。学术出版社,波士顿,1985年

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