F10-RTA-EXR
薄膜光伏(TFPV)正在开发为基于硅沃者产品的低成本替代品。TFPV的三个主要类别以其活性层组件命名:薄硅,II-VI(主要是CDTE), 和香烟(硒化铜。)每个都作为透明导电氧化物(TCO)在底物(通常是玻璃或金属)顶部的活性层存在。
获得正确的厚度和活性层组成很重要。太薄会影响效率和耐用性,而太厚会增加成本。错误的组成可以大大降低效率和制造产量。
电影摄影®F20型号由数十个TFPV制造商使用,以测量所有三种活性层的厚度和光学常数。为了测量TCO顶部的活动层,电影摄影具有丰富的体验,这些经验表征了内部和玻璃供应商单层或多层TCO堆栈。
除活动层和TCO堆栈外,还有其他电影通常用于制造TFPV。例子包括用于定义细胞和电极以及抗反射涂层的聚酰亚胺和抵抗。在每种情况下,电影摄影都有一个台式,映射或在线解决方案。
快速可靠地测量多层的能力对于薄膜太阳能电池的开发和制造至关重要。在此示例中,我们正在测量薄膜PV设备上的缓冲层(CD)和吸收层(CDTE)。使用我们的F20-nir与准直的光束级结合使用,我们能够获得反射率谱,该光谱使我们能够测量TEC玻璃上基于CDTE的太阳能电池的CDTE和CDS层的厚度。