硅晶片和膜

电影化学^®提供桌面，测绘和生产系统，用于测量硅晶片和膜厚，范围为1nm至2mm厚。

接触我们的薄膜专家讨论您的硅晶片和膜应用。

电影化提供免费试用测量- 结果通常在1-2天内提供

厚度范围*	应用	生产线
5μm - 2mm.	单点	F3-SX.
1nm - 200μm.	单点	F20
3nm - 2mm.	厚度映射	F50./F60-T./F60-C.
*范围取决于模型，选项和正在测量的材料

立即联系我们

我们喜欢谈论薄膜，所以我们只会在一两分钟内回复。（m-f）

搜索应用程序欧宝网页版登录

无定形和多晶硅
测量所有形式的无定形和多晶硅的厚度，膀胱潴态和n和k。
电介质
Fimpetrics股票仪器测量整个工业中使用的数以千计的介电胶片。
CVD，电介质，屏障，PECVD，钝化，绝缘体，保护，AL2O3，COO，ZnO，MOO，TiO2，CR2O3，NB2O5
高涂层厚度
Fimpetrics系统广泛用于汽车行业，以验证硬涂层和底漆厚度。
亚克力，汽车工业，耐化学性，透明涂层，装饰涂料，硬涂层，眼镜，面罩，硬涂层，硬度，互渗层，乳化，眼科镜片，光学质量，塑料透镜，聚碳酸酯，聚酯，硅氧烷，底漆，保护膜，耐刮擦，屏幕保护，表面光洁度，表面保护，热固化，顶涂，触摸屏，紫外线涂层，UV固化
IC失效分析
F3-SX在整个芯片制造工业中使用，以测量硅的背面变薄。
故障分析，FA，硅，Si，集成电路，IC，抛光，背面故障分析，硅薄
ITO和其他TCOS
专有分析算法允许一键测量TCO厚度，索引和k。
氧化铟锡，ITO，掺杂锡氧化物，透明导电氧化物，TCO，显示器，前触点，透明电极，LED，LCD，太阳能，氟掺杂锡，FTO，TEC，TEC玻璃，氧化铝，氧化锌氧化铝，氧化铝，掺杂铝掺杂氧化锌，氧化锌，伊佐，氧化锌，IZO，锌掺杂氧化物
医疗设备
测量血管成形术气球的厚度，支架和植入物涂料，以及许多其他厚度。
支架，药物涂层支架，药物涂料，气球，血管成形术，聚对二甲苯，微流体装置，气隙，导管，膜
金属厚度
测量金属薄膜的厚度，指数和k长达50nm，或厚度，薄层电阻和导电膜的电阻率和样品
金属化，金属化，箔，支架，镜子，钢，不锈钢，金，镍，铝，银，钴，锌，钼，钛，铬，铬，铌，钨，镓，锗
微流体
三维表面轮廓测量测量微流体通道。
微流体，芯片，医疗，合成，生物医学的实验室
Oleds.
测量NPB，ALQ3，PEDOT，P3HT，可溶性Teflons等的厚度和指数......
Pled，Amoled，空穴传输（HT），空穴注入层（HIL），主体材料，阳极，阴极，Alq3，NPB，亚苯基乙烯基，咔唑，噻吩，苯胺，苯乙烯磺酸盐，酞菁，芴，锂，银，ITO，钙
眼科涂料
使用F10-AR测量反射率和颜色，以及AR和硬涂层厚度。
眼镜，HC，高涂层，耐刮擦，AR，抗反射，反射，UV可固化，水道，聚碳酸酯，高指标，CR39，MR-6，MR-7，TRIVEYX
聚苯乙烯涂料
只需在F3-CS的阶段即可在F3-CS的阶段设置您的聚对涂层样品以测量其厚度！
保全
光刻胶
我们测量了几十个不同的抗蚀剂，可以为您使用的任何抗蚀剂生成索引文件。
SU-8，抗蚀剂，光致抗蚀剂，PR，AZ，AZP，ZEP，阳性，阴性，G线，I线，KRF，PMMA，FEP，GRX，KMPR
多孔硅
测量多孔硅膜的厚度，孔隙率，折射率和k。
工艺电影
Fimpetrics提供全系列的用于测量半导体工艺薄膜的产品。
折射率＆k
测量宽度为190-1700nm的波长的折射率和消光系数。
N＆K，复杂，真实，假想，折射率，吸收，消光系数，指数，克拉姆斯 - 克朗，光学分散，电介质，洛伦兹，Cauchy，光致抗蚀剂，异常分散，路径长度
硅晶片和膜
我们提供桌面，测绘和生产系统，用于测量硅厚度高达2mm。
太阳能应用欧宝网页版登录
测量CdTe，Cd，CIG，非晶SI，TCO，反射（AR）层，更多......
铜铟镓五烯醇，CIGS，碲化镉，CdTe，CAD，，无定形硅，无定形Si，A-Si，硫化镉，Cd，窗层，缓冲层，薄膜光伏，薄膜PV，TFPV，光伏，太阳能电池，内联，原位，卷辊，R2R，蒸发，溅射，CVD，MOCVD，PECVD，透明导电氧化物，TCO，氧化铟锡，ITO，掺杂锡氧化铟锡
半导体教学实验室
已在大学教学实验室中提供超过五十份Fimpetrics F20s。
表面粗糙度和完成
三维表面轮廓测量测量表面粗糙度。
表面，粗糙度，光学轮廓，轮廓仪，饰面，粗糙度测量，波兰，研磨，金属，扫描
网涂料
电影化学系统广泛用于聚合物 - 薄膜群落中以测量厚度在线。
滚动卷，滚动测量，辊系统，滚动基板，卷纸，卷网，卷轴，R2R，网涂机，AutoWeb，在线，在线显示器，在线厚度，线路监控系统，精密测量工具，自动，喂养，生产，多点，高速