光谱反射率和透射率用于光学涂层和滤光片上，以测量多层介电层中各层的厚度。多层电介质堆叠被用于各种需要精确光学滤波的应用，如军事、航空航天、建筑玻璃和各种类型的光学计量设备，包括拉曼欧宝网页版登录光谱和3D光学轮廓测量。

多层介质堆

多层介电层用于选择性地管理光的反射率和/或透射率。通过控制组成薄膜层的厚度，单独的高通(HP)、低通(LP)和带通(BP)滤波器可以组合在一起，以创建一个非常特定的滤波器。通常，2-3种不同的材料以交替的方式分层以产生所需的过滤效果，但是Filmetrics FILMeasure^®软件算法可以容纳更多的东西，包括最近一个不为人知但在熔融二氧化硅衬底上有53层的商业堆栈的例子。

的Filmetrics^®F10-RT旨在提供宽光谱范围和光传输测量能力，以解决测量多层/多参数薄膜堆厚度的挑战。

滤光片透光率的测量

为了测量光学透过率，光路中必须没有不透明层;任何背面不透明(散射)层应在透光率测量之前去除感兴趣的区域。

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Filmetrics提供免费试用测量-结果通常在1-2天内出来。