液晶显示器，多种有机发光二极管（OLED）变体，以及大多数其他平板显示技术依赖于透明导电氧化物（TCO），例如氧化铟锡（ITO）来运输电流并用作每个发光元件的阳极。

了解形成显示器的层的厚度是任何薄膜过程中的重要优势。对于LCD，除了ITO层之外，确定厚度还需要一种测量聚酰亚胺和液晶层的方法。对于OLED，厚度测量必须检查发射，注射和封装层。

在测量任何多层叠层时，诸如光谱反射率和椭圆形测量的光学技术需要堆叠中的每层的厚度和光学常数（折射率和k）以测量或精确地建模。

当该堆栈包含ITO层时，测量和模拟其他层变得更具挑战性。这是因为ITO具有唯一的光谱信号，通常占据另一层。必须准确地测量ITO层的折射率，以便确定其他材料层的厚度。

此外，ITO层的精确折射率测量对于确认所用的化合物将提供正确的电导率，或验证内置于显示玻璃中的ITO胶片的厚度。

电影化学^®测量ITO厚度的解决方案

Fimpetrics F20-EXR采用光谱反射率来提供简单且实惠的解决方案，以便精确ITO测量。该解决方案结合了新的ITO色散模型，具有F20-EXR的宽400-1700nm波长范围，以提供鲁棒，“一键单击”ITO厚度分析。一旦ITO层的特征在于，F20-EXR可以分析剩余的显示层。

无论您是否参与基础研究或展示制造，Fimpetics都可以提供所需的功能......

液晶层

• 聚酰亚胺，硬涂层和液晶厚度

OLED层

• 排放，注射，缓冲和封装

对于非图案样品，考虑Fimpetrics F20薄膜测量仪器。对于图案薄膜，用于测量薄膜厚度的电影化学仪F40在显示器应用中发现广泛使用。欧宝娱乐在线平台欧宝网页版登录

电影化提供>免费试验测量ITO和其他TCO薄膜样本，结果通常在1-2天内提供。>联系我们的薄膜专家讨论您的展示材料和TCO测量应用。